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[技术交流] 高次谐波测试环境注意点

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发表于 2019-9-24 10:14:31 | 显示全部楼层 |阅读模式
      对于各种射频产品的认证测试项中,高次谐波是一个令大家头疼的家伙;也经常听闻各种友商对高次谐波的痛诉,高次谐波的指标很简单,在所有的认证中,只会给一个上限值以及测试环境参数;其余的并没有要求;但在实际测试中发现,大部分研发单位对于高次谐波的摸排往往采用信号分析仪(俗名:频谱仪)+传导测试的方法;这个方法在理论上非常完美,只需按照认证测试要求将测试环境参数设置好,同时预先调整好扫描频率范围,就可以接上被测试设备,让设备处于发射状态,就可以读到高次谐波的值了。但是这个方法非常受限于仪器本身的底噪及其动态范围;所以在测试时要注意进入仪器端口最大功率不能超过预设的Ref Level,防止内部LNA饱和,这一过程中要注意的是这个所谓的进入仪器端口最大功率包含基波功率,而不是仅仅扫频范围内的最大功率,否则由于内部LNA饱和导致高次谐波比真实值高出不少;在实践过程中发现,市场上主流的N9000A/B在测试高次谐波时,本底噪声就已经接近认证上限,这种情况容易导致高次谐波误判。      正确的操作是首先进行预测试,观察保证内部LNA处于线性区的前提下,仪器本底噪声的实际值与认证测试的上限冗余度;若冗余度过小,则无法直接测试,需要更换本底噪声更小的的仪器或者在测试链路中加入滤波器,以降低基波功率,保证测试冗余度;若冗余度足够,则可以直接测试。其冗余度是否过小,是凭个人经验的,但个人推荐在15~20dB及以上。根据加入的滤波器原理,若是反射型滤波器,还得考虑需要加前置衰减器保证反射信号不会将被测设备本身烧毁;若是消耗型滤波器,则可以不需要衰减器。环境搭建完成后,读数时别忘了将链路的衰减加上即可。

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